Цветков Эрик Иванович
доктор технических наук, профессор кафедры Информационно-измерительных система и технологий, заслуженный деятель науки Российской Федерации
Основы математической метрологии (ВЕСНА 2024)
Кафедра информационно-измерительных систем и технологий
Для зачисления на курс требуется приглашение
О курсе
Курс посвящен изучению свойств процедур и результатов измерений. Анализ погрешностей выполняется на основе вероятностного подхода. Рассматриваются основные методы метрологического анализа – расчетный на аналитической основе, с использованием машинного эксперимента (имитационного моделирования) и экспериментальный. Проводится систематический метрологический анализ типовых измерительных процедур – прямых и косвенных измерений, измерений с усреднением и итеративных измерений. Дается характеристика основных методов повышения точности измерений – управление характеристиками средств измерений, подавление случайных погрешностей с использованием усреднения, коррекция погрешностей. Дана характеристика процедур идентификации зависимостей как для обеспечения косвенных измерений, так и использования соответствующих зависимостей для описания закономерностей и управления.
Цели и задачи дисциплины
- Изучение методики разработки математических моделей объектов, процедур, средств и условий измерений.
- Формирование базовых представлений о применении современных информационных технологиях при описании и анализе процедур и результатов измерений.
- Освоение современных методов метрологического анализа процедур и средств измерений, обеспечивающих возможность проектирования объектов в профессиональной сфере.
Формируемые компетенции
- УК-2. Способность управлять проектом на всех этапах его жизненного цикла.
- СПК-6. Готовность выбрать оптимальные методы и разработать программы экспериментальных исследований и испытаний, проводить измерения с выбором современных технических средств и обработкой результатов.
Результаты обучения
По завершении изучения курса слушатель:
- Способен представлять результат деятельности и планировать последовательность шагов для достижения данного результата.
- Выбирает оптимальные методы и разрабатывает программы экспериментальных исследований и испытаний в области адаптивных измерительных систем.
- Проводит измерения с выбором современных технических средств и обработкой результатов.
Структура курса
- Тема 1. Формализованное описание процедур
- Введение
- Уравнение измерений
- Типовые измерительные процедуры
- Измерительные преобразования
- Погрешности результатов измерений
- Тема 2. Метрологический анализ средств измерения
- Аналитическое описание погрешностей и их характеристик
- Определение погрешностей и характеристик погрешностей с использованием имитационного моделирования
- Метрологические испытания
- Метрологический эксперимент
- Определение погрешностей и характеристик погрешностей с использованием комбинированных методов
- Тема 3. Специальные главы
- Измерение параметров локальных сигналов
- Метрическая идентификация зависимостей
- Повышение точности результатов измерений
- Идентификация объектов и отношений
- Связь состава и структуры обобщённой метрологии с метрологией величин
Информация об аттестации
В рамках итоговой аттестации слушатель должен выполнить:
- индивидуальные задания;
- промежуточное контрольное тестирование;
- итоговый тест.
Результаты тестирований оцениваются по рейтинговой системе.
Направления подготовки
Целевая аудитория
Курс рассчитан на магистров 1-го года обучения. Может быть использован для подготовки магистров и специалистов в области информационно-измерительных систем.
Требования к слушателям
Освоены базовые курсы физики, математики и метрологии.
Авторы курса
Сулоева Елена Сергеевна
кандидат технических наук, доцент кафедры Информационно-измерительных система и технологий